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掃描電子顯微鏡
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產(chǎn)品分類(lèi)掃描電鏡應(yīng)用范圍不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場(chǎng)景中,用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡(jiǎn)單 SEM”功能,用戶(hù)可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電鏡不僅是開(kāi)展科研工作所不可少的工具,對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場(chǎng)景中,用戶(hù)需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡(jiǎn)單 SEM”功能,用戶(hù)可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。
JED-2300/2300F 能譜儀是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過(guò)與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng)使用,可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析。 EDS通過(guò)檢測(cè)被電子束激發(fā)出的樣品特征X射線,確定樣品含有的元素及成分比,可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)分析、線分析及面分析。
JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性?xún)r(jià)比高的掃描電子顯微鏡。
JCM-7000 JEOL臺(tái)式掃描電子顯微鏡 NeoScope™ 是以“誰(shuí)都可以操作的SEM/EDS“為理念的臺(tái)式掃描電子顯微鏡, 標(biāo)配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。 新設(shè)置了中文操作界面!(選配件)